• 功率半導體器件功率循環(huán)測試與控制策略

  功率循環(huán)測試是一種功率半導體器件的可靠性測試方法，被列為AEC-Q101與AQG-324等車規(guī)級測試標準內(nèi)的必測項目。與溫度循環(huán)測試相比，功率循環(huán)是通過器件內(nèi)部工作的芯片產(chǎn)生熱量，使得器件達到既定的溫度；而溫度循環(huán)則是通過外部環(huán)境強制被測試器件達到測試溫度。

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  2024/09/28

  功率半導體 IGBT器件

  

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