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無圖形晶圓的顆粒檢測原理

2024/11/20
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知識(shí)星球(星球名:芯片制造與封測技術(shù)社區(qū),星球號(hào):63559049)里的學(xué)員問:在裸晶圓上,顆粒的檢測是如何實(shí)現(xiàn)的?比較經(jīng)典的顆粒檢測機(jī)臺(tái)有哪些?

顆粒檢測用什么光源?

激光。激光束掃描旋轉(zhuǎn)中的晶圓表面,在無顆粒的光滑表面上,激光束發(fā)生鏡面反射,當(dāng)激光遇到顆粒時(shí),部分入射光線會(huì)向各個(gè)方向散射。在暗場照明中,散射光可以直接檢測;在明場照明中,可以通過檢測鏡面反射光強(qiáng)度的變化來表示。

明場與暗場各用來檢測什么?

明場的光源垂直地照射到晶圓表面,暗場光源以一定的傾斜角度照射晶圓表面。暗場的視野一般是黑色的,只有表面有顆粒時(shí),才看到發(fā)光體。明場適用于檢測表面較光滑,顆粒較大的晶圓,暗場適用于檢測超微小的顆粒。

檢測機(jī)臺(tái)如何記錄光強(qiáng)?

使用PMT或CCD來記錄光強(qiáng)。PMT是光電倍增管

比較經(jīng)典的檢測機(jī)臺(tái)型號(hào)?

KLA Surfscan? SP2

也可以加入Tom的半導(dǎo)體制造先進(jìn)封裝技術(shù)社區(qū),在這里會(huì)針對(duì)學(xué)員問題答疑解惑,上千個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)資料共享,內(nèi)容比文章豐富很多很多,適合快速提升半導(dǎo)體制造能力,介紹如下:? ? ?《歡迎加入作者的芯片知識(shí)社區(qū)!》

 

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