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晶圓測試

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  • 上市公司豪擲10億，在張江建總部！
    近日，上海市浦東新區(qū)人民政府官網公告顯示，偉測科技上?？偛炕仨椖恳?guī)劃設計方案正式披露。該項目坐落于上海浦東新區(qū)合慶鎮(zhèn)，建設用地面積29342.3平方米，公司自成立以來一直在上海租賃辦公場地，此次計劃購買土地使用權建設公司上?？偛炕貙⒓訌姽臼袌龈偁幜途C合實力，有效降低運營成本等。
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  • 突破14nm工藝壁壘：天準科技發(fā)布TB2000晶圓缺陷檢測裝備
    開啟國產缺陷檢測新紀元 蘇州2025年3月26日?/美通社/ -- 3月26日，蘇州天準科技股份有限公司（股票代碼：688003.SH）宣布，旗下矽行半導體公司研發(fā)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測裝備TB2000已正式通過廠內驗證，將于SEMICON 2025展會天準展臺（T0-117）現場正式發(fā)布。 這標志著公司半導體檢測裝備已具備14nm及以下先進制程的規(guī)模化量產檢測能力。這是繼TB1500突破40
  • WAT測試崗常見面試問題
    請簡述WAT測試的主要目的。WAT測試與CP測試的主要區(qū)別是什么？WAT測試在晶圓生產流程中的位置和作用是什么？請解釋摩爾定律對WAT測試的重要性。解釋在CMOS工藝中，WAT測試結構的意義是什么？WAT參數的種類有哪些？各自的作用是什么？請列舉幾種常見的有源器件和無源器件WAT測試參數。為什么WAT測試結構設計在劃片槽中，而不設計在芯片內部？在WAT測試中，如何確定測試參數是否合格？WAT數據對生產工藝的優(yōu)化有何幫助？
    WAT測試崗常見面試問題
  • WAT測試與FT測試的區(qū)別
    把WAT測試比作在汽車生產線上每個工藝環(huán)節(jié)都要設置的質量檢查站。這些檢查站會確保每一個零部件的生產質量符合標準。比如，在生產發(fā)動機時，WAT測試相當于檢查發(fā)動機的各個零件是否精準、符合設計要求。如果某個零件不達標，就會在這個環(huán)節(jié)被發(fā)現并處理。
  • CP測試和WAT測試的區(qū)別
    在集成電路的制造和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進行，但二者的目的、測試對象、測試內容和作用是有顯著不同的。
    CP測試和WAT測試的區(qū)別
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