共模噪聲和差模噪聲是電路設計和測試中常見的問題，它們的存在會影響電路性能。以下是關于它們的一些科普知識。

1.共模噪聲和差模噪聲產(chǎn)生的機理

共模噪聲和差模噪聲都是由于信號線周圍環(huán)境的電磁干擾所致。其中，共模噪聲是指微小信號在兩個終端之間的相同引用電位上受到的干擾；而差模噪聲是指微小信號在兩個終端之間的相反引用電位上受到的干擾。

對于共模噪聲，它可以來源于電源諧波干擾、接地回路噪聲、EFT、ESD等各種外部EMI/EMC等干擾源。對于差模噪聲，由于其來源較多，如布線、傳輸介質(zhì)、變壓器中的磁耦合等都可以導致差模噪聲。

2.工模噪聲的影響

工作模式噪聲是指在電路自身操作過程中產(chǎn)生的噪聲。它與共模噪聲和差模噪聲不同，因為后者是來自于外部干擾源。而工作模式噪聲是由于電路組件（如MOSFET）內(nèi)部的隨機性（例如電流噪聲和轉(zhuǎn)移谷噪聲）或非理想行為（例如溫度漂移和1/f噪聲）所引起的。

工作模式噪聲通常會影響電路的性能，比如放大器的增益、帶寬和失真。減小工作模式噪聲是商業(yè)成功所必須的一步，同時也是電子設計師永恒的挑戰(zhàn)之一。