瓷介電容是一種常見的電子元器件，用于存儲(chǔ)電荷或控制電路中的電壓和電流。然而，隨著使用時(shí)間的增加，瓷介電容也會(huì)出現(xiàn)各種失效問題。

1.老化失效

瓷介電容老化失效是指由于內(nèi)部材料電子結(jié)構(gòu)變化、晶體粒界遷移或介質(zhì)材料化學(xué)反應(yīng)等因素影響，導(dǎo)致瓷介電容性能衰退或失效。其中，包括漏電流增大、容值降低、ESR值增大等表現(xiàn)形式。老化失效通常發(fā)生在長時(shí)間高溫、高濕或高電場等暴露環(huán)境下。

2.短路失效

短路失效是指瓷介電容器內(nèi)部絕緣介質(zhì)被擊穿，造成正極與負(fù)極之間出現(xiàn)通路，導(dǎo)致電容的電氣性能嚴(yán)重下降或失效。短路失效的原因主要有介質(zhì)內(nèi)部缺陷、金屬極片制造時(shí)的錯(cuò)誤操作等多方面因素。

3.開路失效

開路失效是指瓷介電容器內(nèi)電極組裝不良，或者外界環(huán)境壓力或振動(dòng)使其失去電極接觸而出現(xiàn)的開路狀態(tài)。開路失效會(huì)導(dǎo)致電容無法工作，在電路中表現(xiàn)為電路不通斷。