芯耀
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意法半導(dǎo)體開發(fā)了一套與 8 位和低端 16 位微控制器應(yīng)用相關(guān)的測(cè)試?yán)蹋糜谠u(píng)估微控制器核心的計(jì)算性能和中斷處理性能。這些例程已在 ST7 和 ST9 微控制器單元（MCU）上實(shí)現(xiàn)，以及市場(chǎng)上可用的幾種 MCU 上。這些例程是用匯編語(yǔ)言編寫的，以優(yōu)化它們的實(shí)現(xiàn)，并專注于核心性能，而不依賴于編譯器代碼轉(zhuǎn)換。對(duì)每個(gè)測(cè)試感興趣的兩個(gè)參數(shù)是執(zhí)行時(shí)間和代碼大小。盡可能測(cè)量了定時(shí)，在沒有其他替代方案時(shí)進(jìn)行了理論計(jì)算。在大多數(shù)情況下，程序確實(shí)運(yùn)行并測(cè)量了執(zhí)行時(shí)間，因此匯編源代碼不應(yīng)包含實(shí)現(xiàn)錯(cuò)誤，結(jié)果可以被認(rèn)為是正確和可靠的。 這項(xiàng)研究的結(jié)果指出，ST9+ 在 8 位和低端 16 位應(yīng)用中能夠與 16 位 MCU 競(jìng)爭(zhēng)，并確認(rèn)其作為高端 8/16 位 MCU 的地位。也證實(shí) ST7 作為出色的 8 位 MCU。
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