JTAG (Joint Test Action Group) 接口是一種用于測試和調(diào)試電路板上的數(shù)字電路的標準化接口。該接口由 IEEE 標準 1149.1 定義，也被稱為 JTAG 、Boundary-Scan 或 ASIC 互連測試。

1.JTAG接口原理圖

JTAG 接口主要由四種信號線組成：

• TMS（Test Mode Select）：測試模式選擇線
• TCK（Test Clock）：測試時鐘線
• TDI（Test Data Input）：測試數(shù)據(jù)輸入線
• TDO（Test Data Output）：測試數(shù)據(jù)輸出線

這四個線形成了一種環(huán)狀的拓撲結(jié)構(gòu)，可以在 IC 上形成一個完整的鏈，從而實現(xiàn)對芯片內(nèi)部各個模塊的控制與訪問。

2.JTAG接口主要作用

JTAG 接口可以用于測試電路板上數(shù)字電路的連接性，包括 PCB 整體連接情況以及 IC 內(nèi)部邏輯關(guān)系的正確性。此外，JTAG 接口還可實現(xiàn)程序下載、調(diào)試和性能分析等功能。對于一些高端芯片，需要 JTAG 接口進行故障排除與修復。

3.JTAG接口在調(diào)試中的應用

JTAG 接口在調(diào)試中的應用包括以下幾個方面：

• 單步執(zhí)行：通過 JTAG 接口可以對芯片進行單步操作，方便逐條程序指令地調(diào)試。
• 寄存器觀測：可以讀取芯片內(nèi)部各個寄存器的狀態(tài)，幫助調(diào)試人員了解芯片運行的實時情況。
• 變量查看：可以查看程序中各個變量的值，幫助調(diào)試人員分析程序錯誤。