有一個設備A，在做EFT測試時發(fā)現(xiàn)，接口A總是通信失敗。

接口A信號，通過連接的IC處理后，再與設備Ａ的主控通信。觀測失敗過程，發(fā)現(xiàn)每當EFT發(fā)送干擾時接口A就會報錯。

EFT干擾的注入主要是通過疊加在適配器等電源的輸入端，對被測器件產(chǎn)生干擾。

觀察設備A原理圖，發(fā)現(xiàn)IC與接口A中間有做防護，信號有串阻且并聯(lián)壓敏電阻到地。

壓敏電阻的優(yōu)勢是便宜，通流量大（規(guī)格書可以查到）。但是響應動作慢，鉗位電壓高，對于一些對電壓幅值比較敏感的器件，壓敏電阻還沒來得及響應，后級就已經(jīng)扛不住了。

于是，將壓敏電阻換成同封裝的TVS，更換TVS時，需要考慮接口A上信號的幅值和信號的通信速率，選擇合適的TVS避免影響接口A的正常工作。

更換為TVS后測試EFT，發(fā)現(xiàn)接口A通信還是會失??！但是失敗率有所下降，說明更換為TVS是有效果的，但是還不夠。

前面說到，EFT對設備的干擾主要是通過電源進來，那么我們可以考慮對電源進行優(yōu)化。

在IC的電源腳加上一顆TVS。同樣需要考慮電源的幅值，避免TVS誤動作。

在電源增加TVS，且接口A上并聯(lián)壓敏電阻換TVS后，設備A的EFT測試通過！接口A沒有報通信失敗了！

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