全球先進的自動測試設備供應商泰瑞達 (NASDAQ:TER)今天宣布，向中國領先的微控制器（MCU）和安全類芯片制造商國民技術股份有限公司交付第7000臺行業(yè)領先J750半導體測試平臺。

泰瑞達J750測試機在中國和日本制造，廣泛部署于全球領先的半導體芯片制造商，提供包括晶圓測試和用于微控制器、無線設備和圖像傳感器等的終測方案。J750測試機在提高測試質量、縮短上市時間和降低測試成本方面均達到行業(yè)領先水平，實現(xiàn)了更高的吞吐量和更多同測數(shù)，縮短了單個工位測試時間并優(yōu)化了并行測試效率。

國民技術高級副總裁闞玉倫表示：“國民技術成為中國MCU和移動安全領域的領軍企業(yè)，其中一個重要原因在于我們始終將質量視為第一要務。為確保我們向客戶提供最高質量的產品，泰瑞達的J750測試機發(fā)揮著不可或缺的作用。憑借頂級性能，J750幫助我們確保最終產品按時按規(guī)格發(fā)貨。”

泰瑞達副總裁 Regan Mills 表示：“泰瑞達進入中國市場已有20多年，我們很榮幸能夠成為國民技術信賴的合作伙伴。我們很高興能與國民技術這樣一家極具創(chuàng)新力和影響力的公司分享這一里程碑，他們一直以高品質和可靠性而著稱。”

可靠平臺和廣受好評的軟件
泰瑞達的J750系列是用于汽車和消費應用的領先MCU器件測試解決方案，在圖像傳感器測試領域也處于世界領先地位。汽車半導體供應商依賴J750提供的可重復且可靠的器件測試結果，且利用泰瑞達的廣受好評的IG-XL™軟件平臺，幫助驗證對汽車市場至關重要的測試程序 。J750測試平臺是半導體制造商追求零缺陷和多工位測試的黃金標準。 

此外，IG-XL軟件平臺對于快速程序開發(fā)也發(fā)揮著至關重要的作用。該平臺可自動擴展以支持多工位測試，節(jié)省大量開發(fā)時間和成本，與其他ATE軟件系統(tǒng)相比，可將多工位測試程序開發(fā)速度提高 30%。